YR PrismScan 632棱镜耦合仪用于块体光学材料、单层介质薄膜、平面光波导的光学参数表征，采用M‑line棱镜耦合测量原理，干式机械耦合无需耦合液；设备632.8nm标准工作波长，支持TE/TM双偏振模式测量；完整保留角度‑光强原始耦合曲线，实现测量过程可视化、数据可追溯。
WHW光机是国内自主研发生产棱镜耦合M‑line测试设备厂家。
YR PrismScan 632棱镜耦合仪面向光学材料研发、薄膜工艺验证、平面波导光子器件科研项目，可根据需方定制化科研方向进行设备改造升级。在交付设备基础上支持科研效果跟进，针对客户需求迭代改进，助力科研成果产出。
每交付一台设备，持续对非保密项目开展功能、结构迭代研究，可将客户研发可行性需求用于设备二次升级改造，充分发挥设备在科研项目中的效能。
一、仪器的主要功能：
1、材料性能评价：块体材料折射率，单层薄膜折射率n、膜厚d，波导有效折射率Neff。
2、功能指标评价：TE/TM双偏振模式分析、M‑line耦合曲线采集、导模模式识别、模式阶数判定。
3、操控指标评价：自动连续角度扫描、精密偏振控制、干式机械耦合压紧、块材/薄膜样品模式切换、原始数据导出保存。
4、过程指标评价：自动回零、扫描状态实时监控、模式自动识别拟合、测量结果复核追溯。
二、仪器主要构成：
1、He‑Ne激光器：632.8nm稳定激光输出；
2、偏振控制模组：偏振片+1/2波片，实现TE/TM偏振切换；
3、精密角度扫描转台模块；
4、耦合头与样品夹持压紧机构（干式耦合，无需耦合液）；
5、光电探测模块，采集反射光强信号；
6、壁挂式/台式计算机控制系统（含集成电路）；
7、自主Qt/C++棱镜耦合测量分析软件；
8、可扩展模块：不同规格耦合棱镜、1550nm光源模块、温控测量模块、波导损耗测量模块（选配）；
三、仪器（示例）主要技术参数：
1.基础工作模块
1.1、测量原理：棱镜耦合/M‑line；
1.2、标准工作波长：632.8nm；
1.3、光源：He‑Ne激光器；
1.4、偏振方式：TE/TM双偏振切换；
1.5、扫描方式：自动连续角度扫描；
1.6、探测方式：光电探测；
2、测量性能指标
2.1、块体折射率测量：支持；
2.2、单层薄膜折射率、厚度联合分析：支持；
2.3、有效折射率Neff计算：支持；
2.4、折射率测量精度：±0.001；
2.5、折射率重复性：≤0.0005；
2.6、薄膜膜厚测量范围：0.5um ~ 150um；
3、软件系统
3.1、开发架构：Qt/C++桌面软件；
3.2、设备控制：设备连接、回零、扫描启停、状态监控；
3.3、数据处理：M‑line曲线实时显示、导模自动识别、参数拟合计算；
3.4、样品管理：块材模式、薄膜模式切换，样品参数录入；
3.5、数据输出：测量结果保存，原始Angle‑Voltage曲线导出，历史记录复核；
4、可扩展选配模块
4.1、多规格耦合棱镜套件；
4.2、1550nm工作波长版本；
4.3、温控测量模块，用于热光系数测试；
4.4、波导损耗测量模块；
4.5、多层薄膜拟合算法扩展授权；
5、典型适用样品
5.1块体材料：K9/BK7、熔融石英、蓝宝石、YAG、LiNbO₃、CaF₂、MgF₂等透明/半透明光学晶体与玻璃；
5.2薄膜样品：SiO₂、Si₃N₄、AlN、Al₂O₃、TiO₂、Ta₂O₅、ITO、AZO、PMMA、光刻胶等单层介质薄膜、透明导电膜；
5.3波导器件：玻璃波导、氮化硅波导、铌酸锂薄膜波导、AlN波导等平面集成光子波导；