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MARSURF-XC2 表面粗糙度轮廓仪
MARSURF-XC2 表面粗糙度轮廓仪 MARSURF-XC2 表面粗糙度轮廓仪 MARSURF-XC2 表面粗糙度轮廓仪
MARSURF-XC2 表面粗糙度轮廓仪简介

MARSURF XC 2 MIT CD 120轮廓测量站是精密轮廓测量入门之选
测量和评估工件和工具上与功能相关的几何参数是研究、设计和工业的基本要求。相对其他方法,快速、简单而经济的 2D 轮廓测量系统受到越来越多的青睐。MarSurf XC 2 可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求。同时,它还能提供安全而可靠的结果。
利用相关元件,更换基准元件后可立即对基准元件相关的参数重新计算。
密码保护用户访问权限,避免不当使用
以多年经验为基础的出色校准流程,包括几何形状校准、测量力校准、弯曲补偿等等
稳定、坚固的测头
平滑运行,稳定而准确的驱动装置
根据各种调整速度自动降低和抬高测杆
高定位精度
专利测杆固定技术,防碰撞保护
MARSURF-XC2表面粗糙度轮廓仪的应用:
1.机器建造:轴承、螺纹、螺纹柱、滚珠丝杠、轴、支架、阀门
2.生产领域最需要的测量:部分自动流程中的轮廓测量
3.汽车业:转向、刹车系统、变速箱、曲轴、凸轮轴、气缸盖
4.医疗:髋关节和膝关节内用假体的轮廓测量,医用螺丝的轮廓测量,种植牙的轮廓测量
MARSURF-XC2表面粗糙度轮廓仪技术参数:

接触速度(Z 方向)
0.1 至 1 mm/s
测杆长度
175 mm, 350 mm
测量速度(文本)
0.2 mm/s 至 4 mm/s
针尖半径
25 μm
扫描长度末尾(X 方向)
120 mm
分辨率
Z 方向,相对探针针头:0.38 μm(350 mm 测杆)/ 0.19 μm(175 mm 测杆)
在 Z 方向,相对于测量系统:0.04 μm
扫描长度开始(X 方向)
0.2 mm
取样角
在平滑表面上,取决于偏差:后缘高至 88°,前缘高至 77°
定位速度(文本)
X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s
Z 方向:0.2 至 10 mm/s
导块偏差
< 1 μm(超过 120 mm)
测量范围 mm
(Z 方向)50 mm
扫描长度(文本)
0.2 mm 至 120 mm
测量力 (N)
1 mN 至 120 mN

MARSURF-XC2表面粗糙度轮廓仪附件:
可选:
MarSurf ST 750 测量立柱
手动控制面板带操纵杆和显示器 MCP 21
平行虎钳,V 形块
设备工作台
软件选项:
DXF 导入选项
相切元素选项
螺纹评定选项
斜面选项
QS-STAT / QS-STAT Plus 选项
拓扑选项
运输:
MarSurf XC 2 包含计算机、MidRange Standard、MarSurf XC 2 软件、Mahr 许可密钥
TFT 显示器
MarSurf CD 120 驱动装置
MarSurf ST 500 测量立柱包含支架
校准套件
MCP 23 手动控制面板
CT 120 XY 工作台包含旋转调整

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